利用火箭、衛(wèi)星等空間飛行器將探測(cè)裝置攜帶到電離層中,測(cè)量電離層介質(zhì)對(duì)裝置的直接作用,以獲得電離層參量的方法。直接探測(cè)能測(cè)到間接探測(cè)不易測(cè)到的參量,如離子成分、離子密度、離子溫度和高空磁場(chǎng)等;測(cè)量精度高, (本文共 1380 字 ) [閱讀本文] >>
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 利用火箭、衛(wèi)星等空間飛行器將探測(cè)裝置攜帶到電離層中,測(cè)量電離層介質(zhì)對(duì)裝置的直接作用,以獲得電離層參量的方法。直接探測(cè)能測(cè)到間接探測(cè)不易測(cè)到的參量,如離子成分、離子密度、離子溫度和高空磁場(chǎng)等;測(cè)量精度高, (本文共 1380 字 ) [閱讀本文] >>