摘要： 為了提高高速動車組服役環(huán)境下功率器件主端子連接結構的服役可靠性，文章通過有限元分析對IGBT器件主端子結構焊層的疲勞可靠性進行研究，并且運用不同的理論預測焊層疲勞壽命并通過功率循環(huán)試驗進行了驗證。結果表明，隨著主端子焊層孔洞率的增加，循環(huán)周次會降低，但影響并不明顯。隨著主端子焊層厚度逐漸增加，循環(huán)周次呈現出先增加后減少的變化規(guī)律。在功率循環(huán)過程中，主端子結構焊層的退化表現為灰色... （共10頁）