摘要： 本文通過分析晶體電光效應及折射率隨電場變化規(guī)律，建立了電光調(diào)制數(shù)學模型并提出一種新的半波電壓測量方法。該方法基于晶體兩端所加電壓幅值與系統(tǒng)輸出波形之間數(shù)學模型，通過確定輸出波形失真臨界點推演晶體半波電壓。為優(yōu)化系統(tǒng)，分析了半波電壓附近輸出波形特性及光源、電源和時間分辨率與系統(tǒng)誤差之間的關(guān)系并提出了兩種優(yōu)化方案——時間分辨率優(yōu)化及對稱優(yōu)化。時間分辨率優(yōu)化的方式通過放大單個波形細節(jié)... （共9頁）