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              1.1 副鼻竇掃描方法
              特種醫(yī)學

                      1.軸位基線為下眶耳線,從上齒槽開始,向上達額竇水平。如有牙齒內(nèi)金屬充填物,為減少偽影,可適當修正基線,避開金屬充填物。層厚、層距為5.0mm。若重點是了解薄的副鼻竇骨壁是否破壞,用層厚1.5mm,層距5.0mm,骨算法以顯示骨結構。    (共 180 字)     [閱讀本文] >>

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